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? IC測試應該選什么樣的探針呢？華榮華雙頭探針廠家
文章出處：行業資訊 責任編輯：深圳市華榮華電子科技有限公司 閱讀量：- 發表時間：2021-05-10 13:49:00
如何測試一顆IC的性能最簡單最方便的方法就是套用使用該IC的電路板來做成測試夾具，這樣就可以高效的測試IC的性能。
有很多人回收物料之后留下成千上萬個IC拆機芯片，但是卻沒辦法去確認IC的好壞，其實簡單點的就是找到IC的載體（主板），把主板提供給專業生產測試座的廠家來做成測試夾具，通過測試治具來作為一個連接媒介，無需重復焊接，損傷芯片就可以達到檢測芯片功能好壞的目的。
怎么測出IC性能哪個好呢？這就要用到華榮華的BGA雙頭探針了，雙頭探針更是廣泛應用于DDR、EMMC芯片的檢測中。
常用的雙頭探針規格有0.26mm、0.28mm、0.31mm、0.35mm、0.38mm、0.48mm、0.51mm、0.58mm、0.78mm、0.83mm、如有特殊定制的尺寸，找華榮華，廠家直銷，交期短哦
1. 耐用。由于插拔時觸點會磨損，磨損會降低連接器的機械和電氣性能。在設置環境中，插拔連接器是一個循環。一個彈簧針可以承受多少次循環來評估連接器的耐用性 2、在接觸系統的正常使用中，接觸點在垂直于接觸表面的壓力下。 3. 溫濕度循環。評估該環境對接觸系統電氣穩定性的影響，當接觸系統暴露在產生高溫/高濕并降低其機械性能的環境中時。這些影響包括接觸表面的水分加速氧化和微表面氧化。接觸表面之間的顆粒和金屬氧化物會降低連接器的電氣性能。 4.溫度壽命。當暴露在機械性能因溫度變化而降低的高溫環境中時，評估該環境對電氣穩定性的影響。高溫會導致觸點氧化并降低端子的法向力，從而降低電氣性能。 5. 振動。評估由于機械力引起的接觸表面微小變化對接觸系統電氣特性尺寸的影響 6. 熱沖擊。當連接器暴露在極高和極低的溫度
2022-03-02
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