常見測試探針的種類和特性

測試針，用于測試線路板的一種常見的探針，表面鍍金，內部有平均壽命3-10萬次的琴鋼線制作成的高性能彈簧，根據電子測試的用途可分為三種：

1、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內大部分的探針產品均可替代進口產品；

2、在線測試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測探針；高端產品的核心技術還是掌握在國外公司手中，國內部分探針產品已研發成功，可替代進口探針產品；　

3、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針，核心技術還是掌握在國外公司手中，國內生產廠商積極參與研發，有部分產品成功生產，可替代進口探針產品。

探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。　　

懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環氧樹脂型（Epoxy Type）

垂直探針：垂直型（Vertical Type）

1.ICT探針　（ICT series Probes)　　一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業內的標準稱呼：100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試．也稱ICT測試和FCT測試．也是目前應用較多的一種探針。

2.界面探針(Interface Probes)　　非標準的探針，一般是為少數做大型測試機臺的客戶定做的，例如泰瑞達和安捷倫。用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面。

3.（MicroSeries Probes)　　兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm.

4.開關探針（Switch Probes)　　開關探針單獨一支探針有兩路電流。

5.高頻探針（Coaxial Probes)　　用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內的和500MHz不帶屏蔽圈的。

6.旋轉探針（Rotator Probes)　　彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用于OSP處理過的PCBA測試。

7.高電流探針（High Current Probes)　　探針直徑在2.54mm-4.75mm之間．最大的測試電流可達39amps。　　

8.半導體探針 (Semiconductor Probes)　　直徑一般在0.50mm-1.27mm之間。

9.電池探針 (Battery Contacts)　一般用于優化接觸效果，穩定性好和壽命長。